Оборудование
Оборудование
Международного научно образовательного центра физики наноструктур
Спектральное оборудование
Спектральное оборудование

Спектрофотометр UV-3600 Shimadzu
Спектрофотометр UV-3600 Shimadzu
Спектрофотометр UV-3600 (Shimadzu) предназначен для измерения оптической плотности образцов в спектральном диапазоне от 200 нм до 3000 нм. UV-3600 сочетает высокую чувствительность и отличное соотношение сигнал/шум.

Спектрофлуориметр Cary Eclipse Varian
Спектрофлуориметр Cary Eclipse Varian
Cпектрофлуориметр «Cary Eclipse» (Cary) предназначен для анализа люминесценции в видимом диапазоне. Cary Eclipse позволяет проводить анализ вынужденной люминесценции и хемилюминесценции.

Спектрометр кругового дихроизма J-1500 Jasco
Спектрометр кругового дихроизма J-1500 Jasco
JASCO J-1500 предназначен для всестороннего исследования кругового дихроизма в диапазоне 160-900 нм. В одном спектрометре реализована возможность проводить измерения поглощения, люминесценции, линейного и кругового дихроизма. Функционал установки расширен приставками MCD-581 и PM-491, позволяющими производить измерения в переменном (1.5 Т) и постоянном (1.6 Т) магнитном поле, соответственно.

Спектрометр круговой поляризованной люминесценции CPL-300 Jasco
Спектрометр круговой поляризованной люминесценции CPL-300 Jasco
JASCO CPL-300 предназначен для анализа флюоресценции хиральных образцов. CPL-300 состоит из двух монохроматоров, что позволяет получать спектры флуоресценции и CPL спектры. Функционал установки расширен приставкой PM-491, позволяющей производить измерения в постоянном (1.6 Т) магнитном поле.

ИК-Фурье Tensor-27 Bruker
ИК-Фурье Tensor-27 Bruker
Tensor 27 (Bruker) предназначен для FTIR-анализа в спектральном диапазоне 4000–400 cm-1 и обеспечивает спектральное разрешение вплоть до 1 cm-1. Возможность подключения дополнительных модулей позволяет исследовать широкий спектр экспериментальных образцов.
Zetasizer nano Malven
Zetasizer nano Malven
Оборудование предназначено для определения среднего размера сферических частиц методом динамического рассеяния света. Также оборудование способно определять ζ-потенциал.
Микроскопы
Микроскопы
Лазерный сканирующий микроскоп LSM-710 CarlZeiss
Лазерный сканирующий микроскоп LSM-710 CarlZeiss
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп LSM 710 (Carl Zeiss) предназначен для работы в видимом диапазоне, обеспечивает возможность проведения спектрального анализа и послойного анализа образцов по глубине. LSM 710 позволяет получать объемные оптические и люминесцентные изображения с максимально возможным для световых микроскопов пространственным разрешением. Оснащен набором лазеров для возбуждения люминесценции на разных длинах волн.

Лазерный сканирующий микроскоп Microtime 100 Picoquant
Лазерный сканирующий микроскоп Microtime 100 Picoquant
Лазерный сканирующий люминесцентный микроскоп MicroTime 100 (PicoQuant) предназначен для измерения времен затухания люминесценции. Позволяет получать оптические изображения объектов, 2D люминесцентные изображения и карты времен затухания люминесценции с дифракционным пространственным разрешением. Метод коррелированного счета одиночных фотонов обеспечивает временное разрешение до 100 пс. Для возбуждения люминесценции используется импульсный диодный лазер (405 нм), для регистрации флуоресценции – ФЭУ (185–800 нм).

Сканирующий электронный микроскоп Merlin CarlZeiss
Сканирующий электронный микроскоп Merlin CarlZeiss
Электронный микроскоп MERLIN (Carl Zeiss) в самой полной комплектации микроанализа Oxford Instruments Nanoanalysis. ЭДС спектрометр высокой чувствительности и высокого спектрального разрешения (Inca Energy X-Max), система ДОРЭ (HKL) и волновой спектрометр (Inca Wave) объединены новейшей системой анализа AZTEC, что позволяет использовать микроскоп как для исследования объектов со сверхвысоким пространственным разрешением (вплоть до 0,6 нм) и высочайшим контрастом по материалу, так и проводить микроанализ: изучать количественно химический состав образцов и изучать кристаллическую структуру образцов.

Атомно-силовой микроскоп Solver proM NT-MDT
Атомно-силовой микроскоп Solver proM NT-MDT
Атомно-силовой сканирующий микроскоп Solver PRO-M (NT-MDT). Предназначен для исследования нанобобъектов со сверхвысоким пространственным разрешением (до 0,1 нм по вертикали и до 1 нм по горизонтали).
Solver PRO-M позволяет исследовать профиль поверхности образцов с площадью до 100x100 мкм.
Конфокальный микроспектрометр комбинационного рассеяния света InVia Renishaw
Конфокальный микроспектрометр комбинационного рассеяния света InVia Renishaw
Конфокальный микроспектрометр комбинационного рассеяния света inVia (Renishaw) предназначен для определения химического состава, структуры и напряжений наноматериалов с дифракционным пространственным разрешением на основе анализа спектров комбинационного рассеяния света. Позволяет получать одно-, двух- и трехмерные рамановские изображения и, соответственно, карты химического состава объектов.
Полный список оборудования можно найти на сайте ЦКП или в открытой приборной базе Университета ИТМО